JEOL : le nouveau microscope électronique à balayage à émission de champ Schottky JSM-IT810 est disponible
2024年7月30日 - 5:21PM
ビジネスワイヤ(英語)
- Amélioration de l’efficacité opérationnelle, du réglage de
l’instrument à l’observation et à l’analyse, grâce à l’utilisation
de la technologie d’automatisation -
JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (président-directeur général : Izumi Oi)
annonce la sortie du nouveau microscope électronique à balayage à
émission de champ Schottky JSM-IT810 le 28 juillet 2024. Les
microscopes électroniques à balayage à émission de champ (FESEM)
sont couramment utilisés dans les domaines de la science et de la
technologie, notamment dans les instituts de recherche, les
universités et l’industrie. Il existe une demande croissante pour
un instrument qui peut être utilisé facilement, avec précision,
rapidement et efficacement, de l’observation à l’analyse. Le
JSM-IT810 ajoute la fonction d’observation et d’analyse automatique
« Neo Action » et la fonction d’étalonnage automatique au
JSM-IT800, qui est équipé du système de contrôle optique
électronique de nouvelle génération « Neo Engine » et du « SEM
Center » pour une grande opérabilité telle que l’intégration
Zeromag et EDS, afin non seulement d’améliorer l’efficacité et la
productivité, mais aussi de contribuer à résoudre les problèmes de
pénurie de main-d’œuvre.
Ce communiqué de presse contient des éléments
multimédias. Voir le communiqué complet ici :
https://www.businesswire.com/news/home/20240729338017/fr/
Schottky Field Emission Scanning Electron
Microscope JSM-IT810 (Photo: Business Wire)
Caractéristiques principales
1. Fonction d’observation et d’analyse automatique « Neo Action
» Il vous suffit de sélectionner les conditions d’acquisition de
l’image SEM et le champ de vision, et la fonction effectue
automatiquement l’observation SEM et l’analyse EDS (spectroscopie X
à dispersion d’énergie). Cette fonction contribue à améliorer
l’efficacité du travail de routine, y compris le travail
d’analyse.
2. Fonction d’étalonnage automatique « SEM Automatic Adjustment
Package » Cette fonction permet l’exécution automatique des
éléments sélectionnés dans le réglage de l’alignement, le réglage
du grossissement et l’étalonnage de l’énergie EDS.
3. « Live Function » Cette fonction apporte les fonctionnalités
Live 3D, Live Analysis et Live Map. Des images 3D peuvent être
construites sur place pendant une observation SEM afin d’obtenir
des informations sur les irrégularités et la profondeur. Elle
permet en outre de toujours afficher le spectre caractéristique des
rayons X et la cartographie élémentaire.
4. Intégration EDS L’observation par SEM et l’analyse par EDS
sont intégrées. L’analyse d’un point, d’une zone et d’une MAP peut
être effectuée à partir de l’écran d’observation. L’incorporation
de l’EDS-Gather-X sans fenêtre permet la détection Li et l’analyse
avec une sensibilité et une résolution spatiale élevées.
Objectifs annuels de vente d’unités
220 unités/an
Lien connexe
Informations sur le produit : microscope électronique à balayage
à émission de champ Schottky JSM-IT810
https://www.jeol.com/products/scientific/sem/JSM-IT810.php
JEOL Ltd. 3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japon
Izumi Oi, président-directeur général (Code boursier : 6951, marché
principal de la bourse de Tokyo) www.jeol.com
Le texte du communiqué issu d’une traduction ne doit d’aucune
manière être considéré comme officiel. La seule version du
communiqué qui fasse foi est celle du communiqué dans sa langue
d’origine. La traduction devra toujours être confrontée au texte
source, qui fera jurisprudence.
Consultez la
version source sur businesswire.com : https://www.businesswire.com/news/home/20240729338017/fr/
JEOL Ltd. Division des ventes d’instruments scientifiques et de
mesure TÉL. : +81-3-6262-3567
https://www.jeol.com/contacts/products.php